可替代ICP的XRF分析

　　電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）是一種高度精確的分析技術(shù)，可檢測(cè)樣本中的微量物質(zhì)。但需要定期校準(zhǔn)和維護(hù)的精密設(shè)備，且極為復(fù)雜，必須由專家來完成使用。盡管ICP測(cè)試本身速度很快，但樣本制備難度大、時(shí)間長(zhǎng)，且涉及危險(xiǎn)物質(zhì)。在許多情況下，XRF分析可*取代ICP分析，也可在ICP設(shè)備停止工作時(shí)作為后備儀器。

　　XRF分析可檢測(cè)樣本中的絕大多數(shù)元素（從百分之幾到百萬分之幾）?？捎糜跈z測(cè)元素周期表中鈉到鈾之間的元素，此外，還可測(cè)量固體、液體、粉末、糊狀物和薄膜。與ICP一樣，其測(cè)量時(shí)間也很快：從幾秒鐘到幾分鐘不等。

　　XRF的優(yōu)勢(shì)

　　如果對(duì)ppm以下的范圍進(jìn)行分析，則ICP是理想之選。但對(duì)于ppm及以上范圍，XRF具備多個(gè)優(yōu)點(diǎn)：

　　● 無損測(cè)試。不會(huì)在樣本表面留下痕跡。分析后的樣本可重新投入生產(chǎn)，以便進(jìn)一步加工或運(yùn)送至客戶。

　　● 樣本制備快速簡(jiǎn)單。要分析液體、糊狀物、粉末或顆粒，只需將其倒入樣本杯并放入分析儀中，而固體則可能需要切割成適合分析儀的尺寸。通常無需制備其他樣本，從而加快測(cè)量過程并降低污染幾率。

　　● 簡(jiǎn)單易用。運(yùn)行XRF測(cè)試無需有經(jīng)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員。只要稍加培訓(xùn)，任何人均可安全使用設(shè)備，并提供準(zhǔn)確結(jié)果。

　　● 購(gòu)置成本低。運(yùn)行XRF光譜儀所需的耗材是樣本杯或樣本盒，如果測(cè)量非常輕的元素（如鈉），則可能還需要使用氦。除此之外，運(yùn)行成本就是電費(fèi)。

　　● 無需使用濕化學(xué)方法。因?yàn)槭褂肵RF測(cè)試樣本無需購(gòu)買、儲(chǔ)存和處理危險(xiǎn)化學(xué)品。這可降低成本和員工所面臨的風(fēng)險(xiǎn)。

　　● 結(jié)果更具重現(xiàn)性。XRF分析所測(cè)量的樣本量大于ICP，因此其測(cè)量結(jié)果更有可能代表整個(gè)樣本。樣本制備量越少，測(cè)試過程中的污染幾率就越小。此外，由于測(cè)試簡(jiǎn)單快捷，因此可輕松地復(fù)核結(jié)果。

　　如果分析ppm以上的鈉到鈾元素，則可考慮使用XRF替代ICP。